учебно-инженерный центр нанотехнологий, нано- и микросистемной техники

Диапазон увеличения: 20х 24,000х

Основные технические характеристики:

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Phenom позволяет получать изображение поверхности образца с очень большим разрешением. Он предназначен для проведения исследований микро- и наноструктур поверхности исследуемого образца. Так возможно изучение морфологии поверхности, проведение измерений размеров, формы, ориентации и других параметров микро- и нанообъектов в диапазоне размеров от нескольких сантиметров до десятков нанометров с увеличением до 24,000х. FEI Phenom обеспечивает связующее звено между электронной и световой микроскопией, предлагая лучшее от обеих путем комбинации световой и электронно-оптической технологий в одну интегрированную, легкую в обращении микроскопную систему.

Производитель: FEI, Нидерланды

Растровый электронный микроскоп FEI Phenom (Нидерланды)

Электронный микроскоп FEI (Нидерланды)

УИЦ НТ НМСТ МГТУ им. Н.Э. Баумана

Электронный микроскоп FEI (Нидерланды) | Учебно-инженерный центр нанотехнологий, нано- и микросистемной техники